t/zbd: fix fio failure check and SG node failure in test case 31
authorShin'ichiro Kawasaki <shinichiro.kawasaki@wdc.com>
Wed, 19 Jul 2023 10:57:53 +0000 (19:57 +0900)
committerVincent Fu <vincent.fu@samsung.com>
Thu, 20 Jul 2023 13:52:37 +0000 (09:52 -0400)
commit4c99637ecee9bcbd96b4e91f2b627b276a905118
tree96445d4c22bcf6a5c890953cb73a74fad3a7ee64
parentaf26c9bf6992e47f5da18955e1edb2d318325db3
t/zbd: fix fio failure check and SG node failure in test case 31

The test case 31 runs fio twice but the failure of the first fio run was
not checked. This allowed the test case pass even with wrong
max_open_zones value. To fix this, check exit code of the fio run.

Also, the first fio run fails when the test target devices are SG nodes,
since libzbc I/O engine is not used. To fix this, call the ioengine()
helper function which adjusts I/O engine for each device.

Signed-off-by: Shin'ichiro Kawasaki <shinichiro.kawasaki@wdc.com>
Link: https://lore.kernel.org/r/20230719105756.553146-11-shinichiro.kawasaki@wdc.com
Signed-off-by: Vincent Fu <vincent.fu@samsung.com>
t/zbd/test-zbd-support