Merge tag 'for-linus-2024060801' of git://git.kernel.org/pub/scm/linux/kernel/git...
authorLinus Torvalds <torvalds@linux-foundation.org>
Sat, 8 Jun 2024 17:48:11 +0000 (10:48 -0700)
committerLinus Torvalds <torvalds@linux-foundation.org>
Sat, 8 Jun 2024 17:48:11 +0000 (10:48 -0700)
commit061d1af7b0305227182bd9da60c7706c079348b7
treee7e9948c1a629bc86c36e22ebf5c22cff36ebbbc
parent329f70c5beaefe0e1197b7919e776dc005213b59
parenta3a5a37efba11b7cf1a86abe7bccfbcdb521764e
Merge tag 'for-linus-2024060801' of git://git./linux/kernel/git/hid/hid

Pull HID fixes from Benjamin Tissoires:

 - fix potential read out of bounds in hid-asus (Andrew Ballance)

 - fix endian-conversion on little endian systems in intel-ish-hid (Arnd
   Bergmann)

 - A couple of new input event codes (Aseda Aboagye)

 - errors handling fixes in hid-nvidia-shield (Chen Ni), hid-nintendo
   (Christophe JAILLET), hid-logitech-dj (José Expósito)

 - current leakage fix while the device is in suspend on a i2c-hid
   laptop (Johan Hovold)

 - other assorted smaller fixes and device ID / quirk entry additions

* tag 'for-linus-2024060801' of git://git.kernel.org/pub/scm/linux/kernel/git/hid/hid:
  HID: Ignore battery for ELAN touchscreens 2F2C and 4116
  HID: i2c-hid: elan: fix reset suspend current leakage
  dt-bindings: HID: i2c-hid: elan: add 'no-reset-on-power-off' property
  dt-bindings: HID: i2c-hid: elan: add Elan eKTH5015M
  dt-bindings: HID: i2c-hid: add dedicated Ilitek ILI2901 schema
  input: Add support for "Do Not Disturb"
  input: Add event code for accessibility key
  hid: asus: asus_report_fixup: fix potential read out of bounds
  HID: logitech-hidpp: add missing MODULE_DESCRIPTION() macro
  HID: intel-ish-hid: fix endian-conversion
  HID: nintendo: Fix an error handling path in nintendo_hid_probe()
  HID: logitech-dj: Fix memory leak in logi_dj_recv_switch_to_dj_mode()
  HID: core: remove unnecessary WARN_ON() in implement()
  HID: nvidia-shield: Add missing check for input_ff_create_memless
  HID: intel-ish-hid: Fix build error for COMPILE_TEST